熒光滲透檢測(cè)線用于檢測(cè)金屬材料或部件中的裂紋或缺陷。

常用的探傷方法有:x射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷（彩色探傷）、渦流探傷、射線探傷、熒光探傷等。

一般的磁粉探傷儀生產(chǎn)廠家都把重點(diǎn)放在物理探傷上，這是一種無(wú)化學(xué)變化的無(wú)損探傷。在不破壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，檢測(cè)被檢件表面和內(nèi)部質(zhì)量的檢測(cè)手段稱為無(wú)損檢測(cè)。

X射線探傷是一種利用X射線穿透物體的方法.當(dāng)遇到缺陷(面積缺陷更有效)時(shí)，光線能量會(huì)減弱，因此圖像將形成在板上，類似于我們拍攝的平板。你可以在觀察光下觀察。

超聲波檢測(cè)是利用超聲波穿透金屬材料的深度，并從一個(gè)部位進(jìn)入另一個(gè)部位，在界面缺陷的反射特征邊緣。當(dāng)檢查零件表面的超聲波束時(shí)，探頭穿過(guò)內(nèi)部的金屬零件，當(dāng)?shù)撞糠瓷洳ㄓ龅饺毕輹r(shí)，在屏幕上形成脈沖波形，根據(jù)脈沖波形確定缺陷的位置和尺寸。

熒光滲透和超聲波探傷線是用于檢測(cè)內(nèi)部缺陷的兩種最常用的方法。

渦流探傷是利用電磁感應(yīng)原理檢測(cè)導(dǎo)電元件表面及近表面缺陷的一種方法。其原理是利用勵(lì)磁線圈在導(dǎo)電元件中產(chǎn)生渦流，用檢測(cè)線圈測(cè)量渦流的變化，從而獲得元件缺陷的信息。

根據(jù)探測(cè)線圈的形狀，可將其分為三種類型：直通式(用于檢測(cè)導(dǎo)線、桿和管道)、探針型(用于元件表面的局部檢測(cè))和插入式(用于內(nèi)部檢測(cè)孔)。